1. 采用压直流无刷电机控制方案，转数测定，寿命长，免维护；可行正反转作设定。
2. 采用五轴体的偏心轮轴驱动，运行平稳、使用寿命长；
3. 微电脑大屏幕控温显示，设定、观察清晰直观；
4. 具有定时能，时间设定范围为0~9999分钟（小时）。
5. 具有断电记忆能，避免因断电、死机成数据丢失。
6. 具有超温声光报警、自动断电能。
7. 具有故障自诊断能。
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型号
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HADJ-300（单层）
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HADJ-300S（双层）
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振荡方式
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回旋振荡方式
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振荡频率
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30-300rpm
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振荡频率度
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±1rpm
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摇板振幅
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Ф35mm
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单层zui大容量
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250ml×42或500ml×30或1000ml×20或2000ml×12
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定时范围
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0~9999分钟（小时）
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摇板尺寸（mm）
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800×600
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电 源
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AC220±10﹪ 50～60Hz
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率（kw）
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0.3
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外型尺寸（长×宽×）mm
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900×780×320
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900×780×725
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重 量（kg）
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375
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400
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注：
1、性能参数测试在空载条件下为：环境温度20℃，环境湿度50%RH
2、作环境温度：5-25℃
6175-3C台式酸度计采用LCD显示，具有背光能，可同时显示pH（mV）温度
规格
范围 pH 0.00~14.00pH
ORP-1999~ +1999mV
温度 0.0~100.0℃
分辨率 pH 0.01pH
ORP1mV
温度0.1℃
度pH
±0.01pH
ORP
±1mV
温度±0.2℃
性能
pH 标准溶液组US (pH4.01, 7.00, 10.01) 和NIST (pH4.00, 6.86, 9.18),用户可自选
pH校正温度范围 0.0~60.0℃
pH 校正2点校正
温度补偿方式及范围自动手动0.0～100.0℃
终点感应急锁定有
音效回馈所有按键
输入阻抗 >1013 欧姆
电源6 X 1.5 伏特AAA 电池或115 / 230V交流电源转换器
作环境0~50℃, 相对湿度小于90%
防水等IP-54
重量/尺寸(长x 宽x)504 g / 203 x 105 x 72mm
标准配置
主机、600P电、008支架、交流电源适配器、标准溶液
选购配件
6230AST
不锈钢温度探棒
600S/600L-ORP
塑壳/玻璃ORP复合电（氧化还原电位测量）
GB700E
可填充式玻璃pH复合电（常规测量）
600P
塑壳Ph复合电（常规测量）
GB710E
复合电（玻璃），粘稠或油脂物体
600C
复合电（玻璃）（纯水测量）
概述
HAD-2263型双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测-改形范德堡测量方法测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，行两次电测量，对数据行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。
仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台以及PC软件等分组成。
主机主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，USB通讯接口。仪器主机所有参数设定、能转换采用数字化键盘和数码开关输入；具有零位、满度自校能；测试能可自动/手动方式；仪器操作可由配套软件在PC机上操作成，也可脱PC机由四探针仪器面板上操作成。测试结果数据由主机数码管直接显示，也可连机由软件界面同步显示、分析、保存和打印！
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。
测试台选配：般四探针法测试电阻率/方阻配HAD-A或HAD-B或HAD-C或HAD-F型测试台。
详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》
仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。
三、基本术参数
3.1 测量范围
电阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm
方 阻：5×10-4～1×106 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□
电 阻：1×10-5～2×105 Ω ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω
3.2 材料尺寸(由选配测试台决定和测试方式决定)
直 径：HAD-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限
HAD-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.
长()度：测试台直接测试方式 H≤100mm, 手持方式不限.
测量方位: 轴向、径向均可
量程划分及误差等
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满度显示
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200.0
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20.00
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2.000
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200.0
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20.00
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2.000
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200.0
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20.00
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常规量程
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kΩ-cm/□
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kΩ-cm/□
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Ω-cm/□
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mΩ-cm/□
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基本误差
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±2%FSB
±4LSB
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±1.5%FSB
±4LSB
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±0.5%FSB±2LSB
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±1.0%FSB
±4LSB
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四探针探头（选配其或加配）
(1)碳化钨探针：Φ0.5mm，直线探针间距1.0mm，探针压力: 0～2kg 可调
(2)薄膜方阻探针：Φ0.7mm，直线或方形探针间距2.0mm，探针压力: 0～0.6kg 可调
3.6 电源
输入: AC 220V±10% ,50Hz 耗：<20W
3.7 外形尺寸：
主机 220mm（长）×245 mm（宽）×100mm（）
