手持式数字式四探针测试仪/手持式四探针测试仪/四探针电阻测试仪 型号：HADM-2
HADM-2型手持式数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美 A.S.T.M 标准。
仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头等二分组成，也可加配测试台。
主机主要由数控恒流源，分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。仪器所有参数设定、能转换采用旋钮输入；具有零位、满度自校能；自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配专用探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
详见 表2《四探针探头型号规格特征选型参照表》点击入
仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、结构紧凑、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
三、基本术参数
1. 测量范围、分辨率
电 阻： 0.010 ～ 9999Ω, 分辨率0.001 ～ 1 Ω
电 阻 率： 0.010～ 2000Ω-cm， 分辨率0.001 ～ 1 Ω-cm
方块电阻： 0.050～ 2000Ω/□ 分辨率0.001 ～ 1 Ω/□
2. 材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台和测试方式决定
直 径：HAD/SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm。
HAD/SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。
长()度：测试台直接测试方式 H≤100mm。.
测量方位: 轴向、径向均可.
3. 量程划分及误差等
|
量程（Ω-cm/□）
|
9.999
|
99.99
|
999.9
|
9999.
|
|
电阻测试范围
|
0.010～9.999
|
9.99～99.99
|
99.99～999.9
|
999.9～9999
|
|
电阻率/方阻
|
0.010/0.050～9.999
|
9.99～99.99
|
99.99～999.9
|
999.9～2000
|
|
基本误差
|
±1%FSB±2LSB
|
±2%FSB±2LSB
|
4) 适配器作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或电池供电
5) 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
净 重：≤0.5kg
