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兆欧表检定装置 HAD-Y10000 厂家
产品名称:兆欧表检定装置 HAD-Y10000 厂家
产品型号:HAD-Y10000
品牌:恒奥德仪器仪表
产品数量:
产品单价:面议
日期:2024-06-13
兆欧表检定装置 HAD-Y10000 厂家的详细资料
 兆欧表检定装置 型号:HAD-Y10000

、 概 述

本仪器是依据JJG622-1997缘电阻表检定规程、JJG1005-2005电子式缘电阻表检定规程和JJG1072-2011直流压值电阻器检定规程等有关文件研制生产的。该仪器设计了的泄漏屏蔽端钮和接地端钮。它不仅可用于检定各种型号的口和产模拟式缘电阻表、数字式缘电阻表、缘电阻测试仪的标准,以及作为直流标准值电阻器使用。具有较长的术寿命和机械寿命。
电阻测量范围100Ω~2TΩ,调节细度1kΩ。
电压测量范围为0~10kV DC。能测量缘电阻表的开路电压、中值电压和峰值电压。

二.术参数

1.电阻输出(压阻箱)分

1.1 电阻输出分的度等及作电压(电流)

1.1.1 固定电阻分

阻 值

1.9TΩ

900GΩ

400GΩ

100GΩ

度等

5

2

2

2

标称电压

10kV

10kV

10kV

10kV

1.1.2 可调电阻分

阻 值

×10GΩ

×1GΩ

×100MΩ

×10MΩ

1

2~10

1

2~10

度等

2

1

1

1

0.5

0.5

标称电压

10kV

10kV

5kV

10kV

2.5kV

5kV

阻 值

×1MΩ

×100kΩ

×10kΩ

×1kΩ

1

2

3~10

度等

0.1

0.1

0.1

0.1

0.1

0.1

标称电压\流

1kV

2kV

2.5kV

1.5mA

5mA

10mA

1.2 调节范围:1kΩ~2TΩ

1.3 使用环境(仪器内)条件

1.3.1 参 考 温 度 范 围: 17℃~23℃

1.3.2 标称使用温度范围: 15℃~25℃

1.3.3 参 考 湿 度 范 围: 30%~60%

1.3.4 标称使用湿度范围: 25%~75%

1.4 缘电阻

检定装置中电阻输出分的电路与电路无电气连接的何其它外金属间的缘电阻,在标称电压下测得的电阻值不小于1GΩ。

1.5 缘强度

检定装置中电阻输出分的电路与测试用参考接地点之间,应能承受频率为45Hz~65Hz的实际正弦交流电压12kV,并历时1min的试验,而不出现击穿与飞弧现象。

1.6 检定装置中电阻输出分输出端的残余电阻应<1Ω,其变差<0.1Ω。

1.7 外形尺寸: 442mm×270mm×145mm

1.8 重 量:<5kg

2. 电压测量(压直流数字电压表)分

2.1 测量范围: 0~11kV DC

2.2 准 确 度: ±(1% 读数±0.2%满度)

2.3 供电电源: 9V DC

2.4 输入电阻: ≥10GΩ

2.5 显 示: 四位半,液晶显示

三.配置

1. 缘电阻表检定装置台。

2. 测试线组。

3. 使用说明书份。

4. 合格证书份。

5. 专用包装箱个

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破测振仪/破测振器 型号;HA4850

用域:程破环境振动监测。公路、铁路、桥梁振动及类似域的各种振动监测及隧道、矿山、大坝、边坡、库岸稳定安监测等。
产品特点:整机坚固、轻小、便携、防水、防尘、稳定,操作简便。自带嵌入式电脑模块、液晶屏和可充电锂电池,可在野外使用

标准配置: 破测振仪台、三矢量速度传感器支、信号采集线根、多能数据线根、锂电池充电器个、软件光盘张、说明书本、合格证张、质保卡张、仪器箱个.

主要标  

通道数:三通道并行采集

 

采样率:1ksps-50ksps,多档可调

 

直流度:误差小于0.5%

 

读数度:达到1‰

 

频响范围:5Hz-500H

 

作温度:-10℃~75℃

 

尺寸:168mm*99mm*64mm

 

重量:1.25g

产品:

1.能集成化: 自带嵌入式计算机模块,液晶屏(128*64点阵)显示,仪器度智能化,可在仪器上直接现场设置参数;采样后能立即预览zui大值、频率及波CDZKCKCDZKCKC形等信息,无需外接电脑支持。
2.三矢量传感器:配备X, Y, Z三维体速度传感器,并有与之相匹配的三矢量合成分析软件,现场传感器安置与测量后读数都很方便。
3.A/D 分辨率: 16位记录,量化台阶可细到1/65536。
4. 量 程: 0.001cm/s-35.4cm/s,能涵盖破振动所需量程,无需再另设量程。
5.大容量存储:可连续记录并储存128段~1000段数据,共128M存储空间,用户可根据需要自行分段,灵活分配;从根本上消除了因误触发成的数据丢失。
6.仪器频响范围:0-1000Hz,能覆盖程破所需的频段。
7.触 发 记 录:直接输入被测信号的物理量值,使用者能根据自身测试需要,直接输入速度、电压等物理量值行测量。方便、直观。
8.信号输入接头:航空接头,接插的性;抗干扰能力强;接插方便快捷;防尘防霉、坚固结实;使用寿命长。
9. 数据通信接口:标准USB2.0接口,数据输出方式快捷,接口通用。
10.供 电: 内置可充电锂电池(充电器自重仅50g),供电时间延长至60个小时。
11.安 : 仪器为密封铸铝外壳,坚固、防尘、防潮,适合各种恶劣程破环境。

 
 
网址;www.51658042.com


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磁性材料测量仪/软磁直流测试系统/软磁材料直流测量装置 型号:HGM2100SD

简单介绍

HGM2100SD软磁材料直流测量装置,自动测量软磁材料在静态(直流)条件下的基本磁化曲线和磁滞回线,测量起始磁导率μi、zui大磁导率μm、饱和磁感应强度Bs、剩磁Br、矫顽力Hc和磁滞损耗Pu等静态磁特性参数。产品符合GB/T13012和IEC60404-4的规定。

软磁直流测试系统 的详细介绍

HGM2100SD软磁直流测试系统

HGM2100SD软磁直流测试系统产品介绍:

HGM2100SD软磁直流测试系统适用于测量各种铁氧体、纯铁、硅钢、坡莫合金、非晶和纳米晶等软磁材料的起始磁导率μi、zui大磁导率μm、饱和磁感应强度Bs、剩磁Br和矫顽力Hc等。依照冲击法的测量原理,采用计算机控制术和A/D、D/A相结合,以电子积分器取代传统的冲击检流计,实现微机控制下的模拟冲击法测量,不仅可以消除经典冲击法中因使用冲击检流计所带来的非瞬时性误差,而且测量度、速度快、重复性好、可消除各种人为因数的影响,为研究材料磁化过程机理提供的依据。整个测试过程自动成,可绘制基本磁化曲线、磁导率曲线和磁滞回线,可打印多种格式的测试报告。

自动测量软磁材料在静态(直流)条件下的基本磁化曲线和磁滞回线,测量起始磁导率μi、zui大磁导率μm、饱和磁感应强度Bs、剩磁Br、矫顽力Hc和磁滞损耗Pu等静态磁特性参数。

产品符合标准GB3657-83、SJ/T10281-91和标准IEC60404-4的规定。依照冲击法的测量原理,采用计算机控制术和A/D、D/A相结合,以电子积分器取代传统的冲击检流计,实现微机控制下的模拟冲击法测量,不仅可以消除经典冲击法中因使用冲击检流计所带来的非瞬时性误差,而且测量度、速度快、重复性好、消除各种人为因数的影响,为研究材料磁化过程机理提供依据。

HGM2100SD软磁直流测试系统产品标准配置

1、计算机:联想机。

2、测试软件:运行于WIN9X/ME/NT/2K/XP等操作系统下,有数据库能。

3、输出设备:HP1020激光的打印机。

3、测试电源:输出电压:0~±50V,输出电流:0.01mA~10A共13个。量程稳定度:优于0.05%。

4、模拟积分器:0.25、0.5、1、2、5、10、20mWb,灵敏度:0.05μWb冲击法,0.1μWb扫描法。

5、A/D D/A转换:分辨率和线性度:12Bit±1/2LSB,转换时间:<10μs。

6、标准样品(3方检验报告):般为坡莫合金1J50或纯铁、硅钢,特殊要求可选1J22材料。

HGM2100SD软磁直流测试系统产品术标(对闭路样品采用冲击法行测试)

1、初始磁导率μi:度:5.0%,重复性±3.0%;

2、zui大磁导率um:度:2.0%,重复性±1.0%;

3、饱和磁感应强度Bs:度1.0%,重复性±0.5%;

4、剩磁Br:度1.0%,重复性±0.5%;

5、矫顽力Hc: 度1.0%,重复性±0.5%。

配置螺线管可用于测量弱磁材料磁导率和矫顽力Hc大于100A/m的软磁开路样品的测量

该装置也适合用于测量弱磁材料的磁导率的测量,根据中华人民共和军用标准GJB 937-1990弱磁材料磁导率的测量方法,在产品配置中添加开路样品测试螺线管和测试补偿线圈,可以满足相对磁导率1.0~4.0范围内的弱磁材料的磁导率测量(GJB 937-1990 标准见附件)。

1、螺线管:长度700mm,直径:50mm。

2、螺线管磁场强度:32kA/m,磁场均匀区长度大于400mm。

3、配置测试补偿线圈:匝比3000:3000,测试相对磁导率: 1.0~4.0的弱磁材料样品,要求样品直径小于10mm,长度大于100mm,测试度优于2.0%,测试重复性优于±1.0%。

4、测试补偿线圈:匝比100:100,测试矫顽力Hc大于100A/m的开路软磁样品,要求样品直径小于10mm,长度大于250mm,测量度优于1.0%,测试重复性优于±0.5%。

三、测试弱磁材料开路样品相对磁导率,在场强Hs:32kA/m条件下测试材料的zui大磁导率um。

四、测试导磁材料开路样品矫顽力,在场强Hs:32kA/m条件下测试材料的Hc。


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