1.四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/方阻测试仪/方阻仪/四探针电阻率测定仪 型号：KDK-KDY-1
四探针电阻率/方阻测试仪（以下简称电阻率测试仪）是用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量份（简称：主机）、测试架及四探针头组成。
本仪器的特点是主机配置双数字表，在测量电阻率的同时，另块数字表（以分之几的度）适时监测程的电流变化，免除了测量电流/测量电阻率的转换，及时掌控测量电流。主机还提供度为0.05%的恒流源，使测量电流度稳定。本机配有恒流源开关，在测量某些箔层材料时，可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生，好地保护箔膜。仪器配置了本公司的产品：“小游移四探针头”，探针游移率在0.1～0.2%。了仪器测量电阻率的重复性和度。本机如加配HQ-710E数据处理器，测量硅片时可自动行厚度、直径、探针间距的修正，并计算、打印出硅片电阻率、径向电阻率的zui大百分变化、平均百分变化、径向电阻率不均习庋。给测量带来很大方便。
2、主机术能数
（1）测量范围：
可测电阻率：0.0001～19000Ω•cm
可测方块电阻：0.001～1900Ω•□
（2）恒流源：
输出电流：DC 0.001～100mA 五档连续可调
量程：0.001～0.01mA
0.01～0.10mA
0.10～1.0mA
1.0～10mA
10～100mA
恒流度：各档均低于±0.05%
（3）直流数字电压表：
测量范围：0～199.99mV
灵敏度：10μV
基本误差：±（0.004%读数+0.01%满度）
输出电源：≥1000ΩM
（4）供电电源：
AC 220V±10% 50/60 Hz 率：12W
（5）使用环境：
温度：23±2℃ 相对湿度：≤65%
无较强的电场干扰，无强光直接照射
（6）重量、体积：
主机重量：7.5kg
体积：365×380×160（单位：mm 长度×宽度×度）
备注：
等测量时（测电阻率），度<3%
电气测量时（测电阻），度在0.3%以内
备注：
仪器包括：主机台；测试架（包括台面）个；四探针头1个
2.橡胶硬度计/数显橡胶硬度计/数显邵氏硬度计 型号：HALX-A
1. 特点
A型适用于般橡胶、合成橡胶、软橡胶，多元脂、皮革、蜡等
C型适用于橡塑并用、塑料中含有发泡剂制成的微孔材料
D型适用于般硬橡胶、树脂、压克力、玻璃、热塑性橡胶、印刷板、纤维等。
符合标准DIN53505,ASTMD2240,JISR7215
2.概述
邵氏橡胶硬度计是测定硫化橡胶和塑料制品硬度的仪器，该仪器有A型、D型、C型三种形式
A型和D型分别适用于低中硬度和硬度材料的测试。C型适用于压缩为50%，应力0.049MPa以上时，采用橡塑并用，塑料中含有发泡剂制成的鞋用微孔材料硬度的测试。
本硬度计执行GB/T531-99,GB2411-80,HG/T2489-93,JJG304-2003有关规定。
3.主要参数
刻度盘值：0-100度
压针行程：0-2.5mm
压针端压力：A/C型0.55N-8.06N,D型0-44.5N
4.使用方法
把式样放置在坚固的平面上，拿住硬度计，压针距离试样边缘至少12mm平稳的把压足压在试样上，使压针垂直的压入试样，直至压足和试样接触时1S内读数。在测点相距至少6mm的不同位置测试硬度值5次，取其平均值（微孔材料测点相距至少15mm）。为稳定测试条件，提测试度，应将硬度计装置在配套生产的同型号测定架上测定。
