方块电阻测试仪/电阻测试仪 型号：GSZ-ST-21
方块电阻测试仪是种依照类似的标准和美A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻（表面电阻）的仪器，可用于测量般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜），金属薄膜……等物质的薄层电阻。
该仪器以大规模集成电路为主要核心；用基准电源和运算放大器组成稳流源；带回路有效正常示电路；并配以大型LCD显示读数，使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、度的特点。
| ◆ 特点： |
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1
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采用大规模集成电路作为仪器的主要分，测量稳定，低耗； |
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2
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以大屏幕LCD显示读数，直观清晰； |
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3
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采用单个电池供电，带电池欠压示； |
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4
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体积≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g； |
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5
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特制之手握式探笔，形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜
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6
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探头带抗静电模块 |
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| ◆ 术标： |
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测量范围
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按方块电阻量值大小分为二个量程档：
1.方块电阻 1.00～199.99Ω/□；
2.方块电阻 10.0～1999.9Ω/□； |
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恒流源
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测量过程误差：≤±0.8% |
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模数转换器
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量程：0～199.99mv；
分辨率：10μv；
方式：LCD大屏幕显示；性，超量程均自动显示；小数点同步显示； |
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测量不确定度
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在整个量程范围内，测量不确定度≤5% |
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四探针探头规格
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间距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；缘电阻≥500MΩ |
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电源
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9V叠层电池1节 |
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