TX-ED400型涡流测厚仪是TX-ED300型测厚仪的改型，仪器性能大幅度提。
      仪器适于测量各种非磁性金属基体上缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝材料、铝件表面的阳氧化膜或涂层厚度，以及其他有色金属材料上缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。
      仪器适于在生产现场、销售现场或施现场对产品行快速、无损的膜厚检查， 可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。
      仪器符合标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法》。
仪器特点
       TX-ED400型涡流测厚仪与TX-ED300型相比，具有如下特点：
＊量程宽   TX-ED400型的量程达到0～500μm。
＊度   TX-ED400型的测量度达到2%。
＊分辨率   TX-ED400型的分辨率达到0.1μm。
＊校正简便   只校正“0”和“50μm”两点，即可在量程范围内设计度。
＊基体导电率影响小   基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时，测量
   误差不大于1～2μm。
＊性提   采用集成度、稳定性电子器件，电路结构优化，仪器性
   提。
＊稳定性提   采用的温度补偿术，测量值随环境温度的变化很小。仪器
   校正次可在生产现场使用。
＊探头线寿命长   采用德口的，在德测厚仪上使用的探头线，探头线寿命
   可大大延长。
＊探头芯寿命长   采用强度磁芯材料，微调了探头设计，探头芯寿命可大大延
   长。
＊探头可互换   外接式探头，探头损坏后，使用者可自行换备用探头。仪器无
   需返厂维修。

测量范围：     0～500μm
测量度：     0～50μm：±1μm；
                    50～500μm：±2%
分 辨 率：     0～50μm：0.1μm、
                    50～500μm：1μm；
                    0～500μm：1μm（可选）
使用温度：     5～45℃
外形尺寸：     150mm×80mm×30mm
重      量：     260g