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颗粒强度测定仪 颗粒强度检测仪  GZQ/KX-3
产品名称:颗粒强度测定仪 颗粒强度检测仪 GZQ/KX-3
产品型号:GZQ/KX-3
品牌:恒奥德仪器仪表
产品数量:
产品单价:面议
日期:2023-11-30
颗粒强度测定仪 颗粒强度检测仪 GZQ/KX-3的详细资料
 1.颗粒强度测定仪 颗粒强度检测仪 型号:GZQ/KX-3

术标:
⑴颗粒直径:0~
20 mm 
  水果: 20~
200 mm
⑵量程范围:0~100牛顿、0~200牛顿、0~500牛顿(选)

⑶灵 敏 度:0.1牛顿

⑷测定误差: ≤0.5%F·S±0.1N

主要特点:
用于测定化肥、药品、水果类的聚合强度
仪器介绍: 

GZQ/ KD-3颗粒强度测定仪用于测定化肥、药品、水果类的聚合强度






2.
电子天平     型号: LP-JJ1000

简要说明:LP-JJ1000电子天平:zui大称量1000g,分辨率0.01g,秤台尺寸 Φ135mm

详细介绍:

产品说明

JJ系列电子天平是继T系列电子天平之后推出的的产品,凭借简单的操作,较的度和灵敏度获得了顾客的青睐。它继承了T系列电子天平的优点并具备了自身的,水平泡和水平调整脚天平自身和数据的稳定,此外,天平配置有标准RS232接口,可连接打印机和计算机。

产品描述                                                           外形

·3种称重单位:克,克拉,金衡盎司                      ·坚固的铝合金底座

·计数能(取样数:1/10/20/50/100)               ·塑料外壳,简单易清理

·称量去皮                                                     ·应变式传感器

·自动校准能                                                  ·不锈钢秤盘

                                                            ·透明防风罩

                                                            ·绿色荧光显示屏

型号
LP-JJ100
LP-JJ200
LP-JJ300
LP-JJ500
LP-JJ600
LP-JJ1000
zui大称量
110g
200g
300g
500g
600g
1000g
分辨率(d)
0.01g
0.01g
0.01g
0.01g
0.01g
0.01g
检定分度值(e)
10d
10d
10d
10d
10d
10d
去皮范围
0~110g
0~200g
0~300g
0~500g
0~600g
0~1000g
校准重量
100g
200g
200g
500g
500g
1000g
秤台尺寸
Φ135mm
体积
213(长)×195(宽)×75()mm
供电
AC220V±10%    50Hz±1Hz
使用温度
0~40℃
使用湿度
≤80%RH
串口
RS232








3.单晶少子寿命测试仪 少子寿命测试仪 型号:GZ-LT-2
GZ-LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量,是半导体的常规测试项目之。本仪器灵敏度较,配备有红外光源,可测量包括集成电路硅单晶在内的各种类型硅单晶,以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。
 
   本仪器根据通用方法频光电导衰退法的原理设计,由稳压电源、频源、检波放大器,特制的InGaAsp/InP红外光源及样品台共五份组成。采用印刷电路和频接插连接。整机结构紧凑、测量数据。
 术  标 :
 
 测试单晶电阻率范围  >2Ω.cm
 可测单晶少子寿命范围  5μS~7000μS
 配备光源类型  波长:1.09μm;余辉<1 μS;
 闪光频率为:20~30次/秒;
 闪光频率为:20~30次/秒;
 频振荡源  用石英谐振器,振荡频率:30MHz
 前置放大器  放大倍数约25,频宽2 Hz-1 MHz
 仪器测量重复误差  <±20%
 测量方式  采用对标准曲线读数方式
 仪器消耗率  <25W
 仪器作条件  温度: 10-35℃、 湿度 < 80%、使用电源:AC 220V,50Hz
 可测单晶尺寸  断面竖测:φ25mm—150mm; L 2mm—500mm;
 纵向卧测:φ25mm—150mm; L 50mm—800mm;
 配用示波器  频宽0—20MHz;
 电压灵敏:10mV/cm;







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