1.自愈式低压并联电容器 型号；BCMJ-0.415-20-3R

■术标准

a、引用标准：GB／T12747.1—2004

b、使用条件：室内使用环境温度-25℃～+55℃容量偏差：O～+15℃海拔≤2000米

c、额定电压：0.13KV、0.28KV、0.4KV,0.415KV、0.45KV、0.48KV、0.525KV、0.69KV、0.75KV、

d、额定容量：1～60Kvar耐压性能：间1.75Un 10秒对壳3000VAC 10秒

e、损耗角正切值：小于0.1％(频额定电压温度20'℃)

f、zui允许电压：1.1Un、zui允许电流：1.31ng、自放电性能：1分钟后电压降至50V以下

■能特点

a、体积小、重量轻、耗低、容量稳定、具有自愈性。

b、电容器采用艺喷纯锌引出，用温膜介质，因此电容器抗涌流能力强，仍寿命长。

c、特的结构设计，使电容器的每个元件都具有良好的通风散热条件，因此电容器可在较的环境温度(+55℃)下运行。

d、外形设计，使电容器易安装成组。

e、电容器各项性能均符合GB／T12747.1－2004《自愈式并联电容器》及标准IEC《标称电压1000V及以下交流系统用自愈式并联电力电容器》的规定。

f、内装防安装置，在电容器发生故障时，能自动切断电源防止发生炸起火，使运行安。

型号规格	外形尺寸							额定电容uF	额定电流A
	L	L1	L2	H	H1	W	W1
BCMJ0.415-3-3R	220	203	180	142	108	77	40	55.5	4.2
BCMJ0.415-4-3R	220	203	180	142	108	77	40	74	5.6
BCMJ0.415-5-3R	220	203	180	142	108	77	40	92.5	7
BCMJ0.415-6-3R	220	203	180	142	108	77	40	110.9	8.3
BCMJ0.415-8-3R	220	203	180	180	148	77	40	147.9	11.1
BCMJ0.415-10-3R	220	203	180	180	148	77	40	184.9	13.9
BCMJ0.415-12-3R	220	203	180	180	148	77	40	221.9	16.7
BCMJ0.415-14-3R	220	203	180	240	208	77	40	258.9	19.5
BCMJ0.415-15-3R	220	203	180	240	208	77	40	277.4	20.9
BCMJ0.415-16-3R	220	203	180	240	208	77	40	295.9	22.3
BCMJ0.415-18-3R	220	203	180	260	228	77	40	332.8	25
BCMJ0.415-20-3R	220	203	180	260	228	77	40	369.8	27.8
BCMJ0.415-25-3R	264	246	222	260	228	73	40	462.3	34.8
BCMJ0.415-30-3R	264	246	222	295	263	73	40	554.5	41.7
BCMJ0.415-40-3R	306	294	270	313	278	127	87	739.7	55.6
BCMJ0.415-50-3R	306	294	270	313	278	127	87	924.6	69.6
BCMJ0.415-60-3R	306	294	270	313	278	127	87	1109.5	83.5
BCMJ0.45-6-3R	220	203	180	142	108	77	40	94.4	7.7
BCMJ0.45-8-3R	220	203	180	180	148	77	40	125.8	10.3
BCMJ0.45-10-3R	220	203	180	180	148	77	70	184.91	13.91
BCMJ0.45-12-3R	220	203	180	180	148	77	40	188.7	16.69
BCMJ0.45-14-3R	220	203	180	240	208	77	40	220.2	18
BCMJ0.45-15-3R	220	203	180	240	208	77	40	235.9	19.2
BCMJ0.45-16-3R	220	203	180	240	208	77	40	251.6	20.5
BCMJ0.45-18-3R	220	203	180	260	228	77	40	283.1	23.1
BCMJ0.45-20-3R	220	203	180	260	228	77	40	314.5	25.7
BCMJ0.45-25-3R	264	246	222	260	228	73	40	393.2	32.1
BCMJ0.45-30-3R	264	246	222	295	263	73	40	471.8	38.5
BCMJ0.45-40-3R	306	294	270	313	278	127	87	629.1	51.3
BCMJ0.45-50-3R	306	294	270	313	278	127	87	786.3	64.2
BCMJ0.45-60-3R	306	294	270	313	278	127	87	943.6	77
BCMJ0.45-10-1R	220	203	180	180	148	77	70	157.3	12.8
BCMJ0.45-12-1R	220	203	180	180	148	77	40	188.7	15.4
BCMJ0.45-14-1R	220	203	180	240	208	77	40	258.88	19.47
BCMJ0.45-15-1R	220	203	180	240	208	77	40	277.37	20.86
BCMJ0.45-16-1R	220	203	180	240	208	77	40	295.86	22.26
BCMJ0.45-20-1R	220	203	180	260	228	77	40	369.83	27.82
BCMJ0.45-25-1R	264	246	222	260	228	73	40	462.28	34.78
BCMJ0.45-30-1R	264	246	222	295	263	73	40	554.47	41.73
BCMJ0.45-40-1R	306	294	270	313	278	127	87	552.9	83.3
BCMJ0.45-50-1R	306	294	270	313	278	127	87	691.12	104.1
BCMJ0.45-60-1R	306	294	270	313	278	127	87	829.35	125

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2.手持式四探针测试仪/四探针检测仪 型号:HAD-3

概述
HAD-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美 A.S.T.HAD 标准。
仪器成套组成：由HAD-3主机、选配的四探针探头等二分组成，也可加配测试台。
仪器所有参数设定、能转换采用轻触按键输入；具有零位、满度自校能；手动/自动转换量程可选；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配专用探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
详见《四探针探头特点与选型参考》点击入
仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、结构紧凑、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。
三、基本术参数
1. 测量范围、分辨率
电 阻： 0.010 ～ 50.00kΩ, 分辨率0.001 ～ 10 Ω
电 阻 率： 0.010～ 20.00kΩ-cHAD， 分辨率0.001 ～ 10 Ω-cHAD
方块电阻： 0.050～ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001 ～ 10 Ω/□
2. 可测材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：
直 径：HADT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130HADHAD。
HADT-C方测试台直接测试方式180HADHAD×180HADHAD。
长()度：测试台直接测试方式 H≤100HADHAD。.
测量方位: 轴向、径向均可.

量程划分及误差等

4) 适配器作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W，或电池供电

5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

净 重：≤0.3kg

3.多能数字式四探针测试仪/台式四探针电阻率测试仪 型号:HAD-2258C

概述
HAD-2258C型多能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美 A.S.T.M 标准。
仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台等分组成。
主机主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、能转换采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校能；电压电流自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类能，zui大分类10类。
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配专用探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
测试台选配：般四探针法测试电阻率/方阻配HAD-T-A或HAD-T-B或HAD-T-C或HAD-T-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选HAD-T-K型测试台，也可选配HAD-T-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配HAD-T-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》
仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、结构紧凑、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
三、基本术参数
1. 测量范围、分辨率（括号内为可向下拓展1个数量）
电 阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω, 分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103 Ω
（1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω, 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω）
电 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm 分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103 Ω-cm
（1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm）
方块电阻：50.0×10-6 ～ 900.0×103 Ω/□ 分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103 Ω/□
（5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103 Ω/□）
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)
直 径： HAD-T-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限
HAD-T-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.
长()度： 测试台直接测试方式 H≤100mm, 手持方式不限.
测量方位: 轴向、径向均可

量程划分及误差等

作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W

5．外形尺寸： 245mm（长）×220 mm（宽）×95mm（）

净 重：≤1.5～2.0kg