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方块电阻/电阻率四探针测试仪  HAD-WSP-51
产品名称:方块电阻/电阻率四探针测试仪 HAD-WSP-51
产品型号:HAD-WSP-51
品牌:恒奥德仪器仪表
产品数量:
产品单价:面议
日期:2023-10-20
方块电阻/电阻率四探针测试仪 HAD-WSP-51的详细资料

1.方块电阻/电阻率四探针测试仪/便携式四探针检测仪  型号:HAD-WSP-51

HAD-WSP-51数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻(简称方阻),换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。

本测试仪可赠设电池供电,适合手持式变动场合操作!

仪器所有参数设定、能转换采用旋钮输入;具有零位、满度自校能;自动转换量程;测试探头采用耐磨碳化钨探针制成,故定位、游移率小、寿命长;测试结果由数字表头直接显示。

三、基本术参数

1. 测量范围、分辨率

电    阻:     1.0×10-2 ~ 2000 Ω,    分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×10  Ω

电 阻 率:     1.0×10-3~ 2000 Ω-cm  分辨率0.1×10-2 ~ 0.1  Ω-cm

方块电阻:     1.0×10-3 ~ 2000Ω/□  分辨率1.0×10-1 ~ 0.1×10  Ω/□ 

2. 可测半导体材料尺寸(手持式)

直        径:  测试台直接测试方式 Φ15~130mm,其他方式不限.

长(或)度:  测试台直接测试方式 H≤160mm,    其他方式不限.

3. 量程划分及误差等

量程

2.000

200.0

20.00

2.000

200.0

kΩ-cm/□

Ω-cm/□

mΩ-cm/□

基本误差

±1%FSB±2LSB

±1.5%FSB

±4LSB

4) 适配器作电源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或电池供电

5) 外形尺寸:W×H×L=18cm×7.5cm×13cm

净   重:≤0.5kg









2.
振动综合实验教学系统 实验教学系统 教学系统 型号:HAD-XH1008

振动综合实验教学系统”是专为等院校的机械学科、土木结构学科和力学学科等开发的整教学实验系统,结合等院校的教学理论课程,用实验方法为学生提供整套实验设备,使学生能通过直观实验来加深学习理论,是教学的备实验装置。
配置的数据采集仪、放大器、传感器和软件等还可用于科研作。
★“振动综合实验教学系统”构成:
(1)振动综合实验台;
(2)组合式简支梁和悬臂梁;
(3)圆盘结构体;
(4)接触式激振器及率放大器;
(5)非接触式激振器及率放大器;
(6)电荷加速度传感器;
(7)力锤;
(8)单式、复式减振器;
(9)主动、被动隔振器,调压器;
(10)二、三自由度钢弦,配重块;
(11)动、静应变仪(选配)
(12)电荷、电压、滤波、积分四能放大器;
(13)数据采集仪;
(14)结构振动综合教学仪;
(15)振动分析教学软件;
(16)计算机(自备)
★实验内容:
(1)简谐振动振幅、频率测量实验;
(2)机械振动系统固有频率测量(正弦扫描)实验;
(3)机械振动系统固有频率测量(里莎育图)实验;
(4)二自由度及多自由度系统的各阶固有频率和主振型测量实验;
(5)多自由度系统的强迫、衰减振动的幅频特性、固有频率测量实验;
(6)半率带宽法阻尼比测量实验;
(7)衰减法阻尼比测量实验;
(8)简支梁和连续弹性体悬臂梁的固有频率、主振型测量实验;
(9)动、静应变测量实验(需要配应变仪)
(10)简支梁锤击法结构模态振型量实验;
(11)悬臂梁锤击法结构模态振型量实验;
(12)单式吸振器吸振实验;
(13)复式吸振器吸振实验;
(14)油阻尼实验;
(15)拍振实验;
(16)主动隔振实验;
(17)被动隔振实验;
(18)二、三自由度钢弦振型测量实验;
(19)振动谱分析、数字滤波、信号处理和分析。











3.简易电测测E试验台 电测测E试验台 测E试验台 型号:HAD-BCE-1J

术标:
砝码加载,共五,每个砝码1Kg
杠杆放大比例201
应变片6,重量:11Kg
zui大加载:1000 N


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