四探针导体/半导体电阻率测量仪/四探针导体/半导体电阻率测试仪  型号：HAD-SB100A/1

HAD-SB100A磁电阻薄膜的磁电阻测量仪
HAD-SB100A/1四探针导体/半导体电阻率测量仪
 
        使用环境为5~40℃，相对湿度<80%，供电220V 50Hz，为实验室环境使用。
 
HAD-SB100A和HAD-SB100A/1为原HAD-SB100和HAD-SB100/1的改型。
 
HAD-SB100A由磁场电源HAD-SB119型稳压电源，亥姆霍兹磁场线圈，HAD-SB118型直流电压电流源，HAD-PZ158A型直流数字电压表以及四探针实验平台五分组成。
 
HAD-SB100A/1由HAD-SB118型直流电压电流源，HAD-PZ158A型直流数字电压表以及四探针实验平台三分组成。
 
其中：
              磁场电源：HAD-SB119型直流稳压电源能产生0~60V连续可调电压，zui大额定电流为输出，详见本公司产品HAD-SB119。
             亥姆霍兹磁场线圈：由2只相型的线圈分别固定在样品平台的衬盘两侧。线圈在实验平台上可360º转动，能产生磁场0~150奥斯特。
              HAD-SB118型电压电流源：既可输出5µV~50V，5档可调电压，基本误差为±（0.1%RD+0.02%FS）又可输出1nA~100mA，5档可调电流，基本误差为±（0.03%RD+0.02%FS）详见本公司产品SB118。
              HAD-PZ158A直流数字电压表：其为1台6½位的zui分辨力可达0.1µV，可测量0~1000V直流电流的仪表。基本量程的基本误差为±（0.002%RD+0.0005%FS），详见本公司产品HAD-PZ158A。
              四探针实验平台：其由底盘，可旋转360º的衬盘，在衬盘上的样品平台以及在样品平台上安置的四探针组成。详见本公司产品实验平台。