智能化介质损耗测试仪 型号：HAD-SB2204/3
智能化介质损耗测试仪是种新颖的测量介质损耗角正切(tgδ)和电容值(Cx)的自动化仪器。可以在频电压下，现场测量各种缘材料、缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等压设备的介质损耗角正切(tgδ)和电容值(Cx)。与西林电容电桥相比，具有操作简单、自动测量、读数直观、无需换算、度、抗干扰能力强等优点。仪器内附标准电容器和升电压装置，在“内接”方式下使用，无需其它外接设备，便于携带。具有多种测量方式，可选择正/反接线、内/外标准电容器和内/外试验电压行测量。正接线可测量压介损。内附HAD-SF6标准电容器，tgδ<0.005%，受空气湿度影响小，矢量运算法结合移相、倒相法，抗干扰效果好；能有效地消除强烈的电场干扰对测量的影响，适用于500kV其以下电站的强干扰现场试验。
智能化介质损耗测试仪主要特点
压短路和突然断电时，仪器能迅速切断压，并发出警告信息。
测量重复性好，电压线性好（测量度不受电压影响）。
体化结构，重量适中，便于携带。
大屏幕带背光中文液晶显示器信息提示操作，使用方便。
仪器自带打印机，及时保存测试数据。
压电缆连接至试品，保障安；仪器未接地报警，安措施备。
术标
额定作条件：温度0～40℃，相对湿度：30%～85%，供电电源220V±22V 50±1Hz
外形尺寸：440×330×400mm
重量:不大于23kg
耗:不大于40VA
测量范围：介质损耗(tgδ) 0～1分辨率0.0001；电容量(Cx):zui小分辨率0.01pF
内接方式：试验电压试品电容量5kV 7.5kV 10kV 3pF～40000PF
1.5kV 2.25kV 3Kv 10pF～0.35μF
0.5kV 0.75kV 1kV 30pF～1.5μF
外接方式：“外接升压器”方式zui试验电压10kV，“外接Cn”方式（外接压、外接标准电容器）zui试验电压由标准电容器和被试品决定(Umax=Imax/ωC)
标准回路zui大电流50mA(In=UωCn)被试回路zui大电流2A(Ix=UωCx)
内升压器输出能力：输出电压额定输出电流5kV 7.5kV 10kV 100mA；1.5kV 2.25kV 3kV 300mA；0.5kV 0.75kV 1kV 500mA
基本测量误差：
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测量内容
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tgδ范围
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电容量范围(Cx)
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试品类型
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基本误差
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介质损
耗因数
tgδ
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0～0.5
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50pF～60000pF
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非接地
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±(1%读数+0.0005)
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接地
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±(1%读数+0.0010)
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10pF～50pF或
60000pF以上
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非接地
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±(1%读数+0.0010)
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接地
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±(2%读数+0.002)
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3pF～10pF
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非接地
与接地
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电容量
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50pF以上
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±(1%读数+1pF)
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50pF以下
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±(1%读数+2pF)
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作原理
仪器测量线路包括路标准回路和路被试回路，标准回路由内置稳定度标准电容器与采样电路组成,被试回路由被试品和采样电路组成。由HAD-8031单片机运用计算机数字化实时采集方法,对数以计的采样数据处理后行矢量运算，分别测得标准回路电流与被试回路电流幅值及其相位关系,并由之算出试品的电容值(Cx)和介质损耗角正切(tgδ)，测量结果。现场有干扰时，利用移相、倒相法减小干扰的影响，再将被试回路测`得的电流Ix′与单测得的干扰电流Id矢量相加，得到真正的测量电流Ix，而得出正确的测量结果。由图3可见，可根据不同的测量对象和测量需要，灵活地采用多种接线方式。如测量非接地试品（正接法）时，“LV”（E）点接地；而测量接地试品（反接法）时，则“HV”点接地。
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