1.低阻型四探针检测仪/方阻仪/四探针电阻率检测仪 型号;KDK-KDY-1
仪器采用GB/T 1552-1995硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
(2)范围:电阻率10-5~10+3欧姆·厘米,分辨率为10-5欧姆·厘米
方块电阻10-4~10+4欧姆/□,zui小分辨率为10-4欧姆/□
(3)可测量材料:半导体材料硅锗棒、块、片、导电薄膜等
可测量的半导体尺寸:直径≥20㎜
可测量的半导体尺寸:直径≥8㎜
(4)测量方式:平面测量。
(5)电压表:双数字电压表,可同时观察电流、电压变化
A.量程0~19.999 mV
B.基本误差±(0.004%读数+0.01%满度)
C.灵敏度:1uV
D输入阻抗﹥1000MΩ
E 4 1/2位数字显示,0~19999
(6)恒流源:
A.电流输出:直流电流0.003~100 mA连续可调,有交流电源供给
B.量程:10uA,100uA,1 mA,10 mA,100 mA五档
C.恒流源度:各档均≤±0.05%
(7)四探针测试探头
A.探头间距1.59㎜
B.探针机械游率:±0.3%
C.探针直径0.8㎜
D.探针材料:碳化钨,探针间及探针与其他分之间的缘电阻大于109欧姆。
(8)测试架:(选配)
手动测试架:KDJ-1A 型手动测试架探头上下由手动操作,可以用作断面单晶棒和硅片测试,探针头可上下移动距离:120mm,测试台面200200(mm)。
(9)度
电器度:1-1000欧姆≤0.3 %
整机测量度:1-100欧姆·厘米≤3%
(10)电流:220V±10%,50HZ,率消耗﹤35W
注:如果测金属粉末电阻率把样品压成块或片才能测
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2.井下电视/井下电视系统 (深300米,含75孔径和400孔径探头) 型号:BTS-GD3Q—A/B

本系统的测试窗口为360°(孔观测),对所有的观察物都能,柱面的观测(垂直孔 \\ 水平孔 \\ 斜孔 \\ 俯、仰角孔)。是的孔内电视。突破了孔内电视在水平孔和斜孔中对有关地质参数观测定量难这术难题。系统的实现了孔视频图像实时展开与拼接,作效率,在施过程中,实地观测结束后,所观测孔内数据与图随即成。
、仪器的特点:
机多用。不仅能观测垂直孔,而且能观测水平孔和(俯、仰角孔)。
成果分析快。用户只需要点击鼠标,即可得到观测的产状描述的所有资料。
孔壁的影像真实。成图采用科处理,做到了无缝拼接,消除了“百叶窗”,了孔壁的真实影像。
作效力,测井速度每分钟1―10米。
度,对裂缝的观辩率达0.01mm。
数据无误,深度编码器程计数。
探头采用体化设计,外壳为口纯不锈钢,耐压防腐,玻璃管强度,透明性好,里面装满了无色胶状透明油,不仅解决了起雾现象,而且提了仪器的整体耐压值,大大的提了测试深度。
实地操作简单。采用程“傻瓜”式操作,用户在实地操作中只需输入孔的地址,孔号等相关信息,点击“开始测试”即可。当测试到孔底时,点击“成测试”,整个测试作结束(中途无需程人员再作何操作)。
整套仪器 “轻”、“小”,便于野外施。
浏览方便。孔内的图像和资料,只要打开电脑就可以随时浏览意方位、意比例、意孔段的圆柱图和平面展开图,也可虚拟整个或分岩心图。
软件设计人性化。
主要术参数:
探头(摄像头):彩色低照度摄像头
CCD像素数:795*596
水平分辨率:795pixels
实用孔径:直径56-500mm
图象数据:xxg文件格式
软件适用环境:Win2000,XP
探头外径(mm):Φ52,Φ68,Φ100
水平像数设置:为320pix为标准
图像垂直分辨率:0.2mm
深度计数度: 0.1mm
时间定时器:0.05ms
测斜度:±0.5°
推荐测试速度:1~3m/s
zui大测量孔深:1000m
注:70探头可以测直径90,108,130,150!
100探头可以测180到250,200探头可以测250到400
3.体视显微镜/显微镜 型号:PM/XTT
体视显微镜可广泛应用于电子业和机械业作产品的装配和检验。由于本显微镜有很的分辨率及大视场范围的清晰度,因此特别适合显微摄影及观察不规则物体的细微结构。
温馨提示:以上产品的资料和图片都是按照顺序相对应的
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