1.洛氏硬度计/洛氏硬度仪 型号：BSD-TH320
洛氏硬度计 介绍：
BSD-TH320为洛氏硬度计、表面洛氏硬度计、塑料洛氏硬度计于体的多能洛氏硬度计，采用洛氏（ROCKWELL）测量原理，可以将洛氏硬度值转换为HB、HV、HLD、HK、σb值。适用于碳钢、合金钢、铸铁、有色金属及程塑料等材料的硬度检测，具有测试度，测量范围宽，主试验力自动加卸载，测量结果数字显示并自动打印或与外计算机通讯等特点。可广泛应用于计量、机械制、冶金、化、建材等行业的检测、科研与生产
洛氏硬度计 能特点：
本硬度计采用特殊的压头结构（俗称“凸鼻子”结构 ），除了可行般传统洛氏硬度计所能成的测试外，还可测试传统洛氏硬度计无法直接测到的表面，如环状、管状等零件内表面
洛氏硬度计 术参数：
|
硬度标尺
|
A,B,C,D,E,F,G,H,K,L,M,P,R,S,V,15N,30N,45N,15T,30T,45T,
15W,30W,45W15X,30,45X,15Y,30Y,45Y,15W,30W,45W共30种标尺
|
|
分辨力
|
0.1HR
|
|
初试验力
|
98.07N/10kgf，29.42N/3kgf
|
|
总试验力
|
588.4N/60kgf,980.7N/100kgf,1471N/150kgf,147.1N/15kgf
294.2N/30kgf，441.3N/45kgf
|
|
显示
|
清晰背光点阵LCD
|
|
菜单文本
|
中文
|
|
操作方法
|
薄膜按键
|
|
测试过程
|
自动成
|
|
试验力加载时间
|
2-50秒，可设定并动态显示、存储
|
|
辅助能
|
上下限设置，超差判别报警；
数据统计，求平均值，标准差，zui大值，zui小值；
标尺转换，可将测试结果转换为布氏HB、维氏HV、里氏HL、
表面洛氏硬度以及拉伸强度σb；
曲面修正，对柱面、面测量结果自动修正
|
|
执行标准
|
GB/T230 ，ISO6508 ，BSEN10109 ，ASTM E-18
|
|
zui大测试空间
|
垂直方向250mm，水平方向150mm
|
|
测试零件种类
|
平面；柱面，zui小外径3mm；内环表面, zui小内径23mm
|
|
供电
|
220V/110V, 50Hz, 4A
|
|
尺寸
|
715mm×225mm×790mm
|
|
净重
|
120kg
|
网址：www.51658042.com
北京恒奥德仪器仪表有限公司
联系方式：/57696
：
: 凡经理
地址 : 北京市海淀区阜城路42号院中裕商务花园6C-211
：
邮箱 ：hadgs2009@163.com
网址 ：http://www.51658042.com。 http://www.had200911.cn
: http://had200911.b2b.hc360.com。54pc.com/netshow/20100104193745/
QQ : 1968156761 1169121880 236261341
2.遥测雨量传感器 型号：NSLW-DY1090A
本仪器专为水文自动测报系统雨量次仪表而设计。使用本仪器能水文自动测报系统雨量参数采集的度，并符合下列规范及标准要求：SL61—94水文自动测报系统规范；GB11831—89水文测报装置遥测雨量计；GB11832—89翻斗式雨量计。
主要术标：
承雨口径：Ф200mm；刃口角40～45�
分辨力：1mm
作环境：
◇ 周围环境温度：0～ 50℃
◇ 相对湿度：不限（ 50℃时）
◇ 温度贮存范围：-40℃～ 60℃
◇ 湿度贮存范围：95%RH（ 50℃时）
发讯方式：根据用户终端机线路不同可选用：
◇ DY1090A1：单触点通断输出
◇ DY1090A2：双触点转换输出（常态时双断）
◇ DY1090A3：双触点转换输出（常态时通断）
雨强范围：0.01～4mm/min（允许通过zui大雨强8mm/min）
测量度：≤�3%（以仪器自身排水量为准，室内人模拟降水作为考核方法）
主要特点及应用范围
本仪器广泛应用于水文自动测报系统中，系统大分均采用本仪器作为雨量传感器，至今为止，使用数量已达5000余台。实践证明，使用分辨力为1mm的NSLW-DY1090A型遥测雨量传感器，既能满足系统防汛抗灾的需求，及时、地监测辖区的雨情，又可避免额外地增加系统内无谓的耗，便于减少系统内电池配置容量。本仪器性能稳定，性，由于采用单翻斗结构，雨强与测量度是线性关系，便于用户现场安装调试。本仪器关键零件翻斗由金属制成，野外作不易变形，老化抗静电尘埃，了测量度的稳定性。
3.·数字式硅晶体少子寿命测试仪 型号：KDK-LT-100C
为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量，特按照标GB/T1553及SEMI MF-1535用频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪。
该设备是按照标准GB/T1553“硅单晶少数载流子寿命测定的频光电导衰减法”设计制。频光电导衰减法在我半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探测器行业已运用了三十多年，积累了丰富的使用经验，经过数次十多个单位巡回测试的考验，证明是种成熟的测试方法，特别适合于硅块、硅棒研磨面的少子体寿命测量；也可对硅片行测量，给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面，制样简便。
KDK-LT-100C数字式硅晶体少子寿命测试仪有以下特点：
1、 可测量太阳能多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光，直接对切割面或研磨面行测量。同时可测量多晶硅检验棒及集成电路、整流器、晶体管硅单晶的少子寿命。
2、 可测量太阳能单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命，表面无需抛光、钝化。
3、配备专用软件的数字示波器，液晶屏上直接显示少子寿命值，同时显示动态光电导衰退波形，并可联用打印机及计算机。
4、配置两种波长的红外光源：
a、红外光源，光穿透硅晶体深度较深≥500μm，有利于测量晶体少数载流子体寿命。
b、短波长红外脉冲激光器，光穿透硅晶体深度较浅≈30μm，但光强较强，有利于测量低阻太阳能硅晶体。
5、测量范围宽广
测试仪可直接测量：
a、研磨或切割面：电阻率≥0.3Ω•㎝的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命，切割片的少子相对寿命。
b、抛光面：电阻率在0.3～0.01Ω•㎝范围内的硅单晶、锗单晶抛光片。
寿命可测范围 0.25μS—10ms
温馨提示：以上产品的资料和图片都是按照顺序相对应的
|
