数字式四探针测试计/数字式四探针测试仪 　型号：SZB-SX1934

产品特点
四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法标准并参考美A.S.T.M 标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）测试专用仪器。
仪器以大规模集成电路为核心件，采用旋扭式开关控制，及各种作状态LED示。应用微计算机术，使得测量读数加直观、快速。整套仪器体积小、耗低、测量度、测试速度快、稳定性好、易操作。


四探针测试仪 测量范围 电阻率/Range：10-4—105Ω/□(可扩展/extended range) 方块电阻(薄层电阻) /Sheet resistance：10-3—106Ω/□ 电阻/resistance：10-6—105Ω
可测晶片直径（zui大） φ100mm(标配)，方形230×220mm(zui大)
zui大电阻测量误差(按JJG508-87)
0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±0.3%读数±2个字
外形尺寸 400mm×440mm×120mm
仪器重量 电气主机：约4kg 　　测试台：约5kg
测试环境 温度：23±2℃ 相对湿度：≤65％； 无频干扰 无强光照射
电源 220V±10%(50Hz) 耗≤35W
备注 具备电脑接口

北京恒奥德仪器仪表有限公司

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