HAD-ICT-33C数字集成电路测试仪,数字IC测试仪产品特点：
◆器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判断其好坏。
◆器件型号判别：当不知被测器件型号时，仪器可依据其逻辑能来判断 其型号。
◆器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其行连续老化测试。
◆器件代换查询：仪器可显示有无逻辑能致，引脚排列致的器件型号。
◆电压调节选择：3V、5V、9V、15V。
◆内RAM数据修改：HAD-ICT-33C可从键盘对自己内RAM中的数据行随机修改。
◆EPROM、EEPROM器件读入：HAD-ICT-33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器件内的数据行读入
并保存。
◆EPROM、EEPROM器件写入：HAD-ICT-33C可将内RAM中的数据写入到64K以内的EPROM、EEPROM
器件中,并自动校验。
◆ 新增RS232接口，与PC通讯，互送资料。

〖TOP〗

术规格：
1、CMOS40系列：103种。
2、CMOSMCI40系列：103种。
3、CMOS45系列：60种。
4、CMOSMCI45系列：60种。
5、光耦合器系列：133种。
6、TTL74/54系列：714种。
8、数码管系列：
0.5寸共阳[001];共阴[002];0.3寸共阳[003];共阴[004];0.7寸共阳[005];共阴[006].
7、TTL75/55系列：82种。
9、常用RAM系列：
2112 2114 2016 6116 6264 62256 6 24C01 24C02 24C04 24C08
24C16 24C32 27C010 29C256 29C010 24C64 93C46 93C56 93C66 28C256

10、EEPROM系列：
2816 2 28040 29101
11、EPROM系列：
2716 2 27256 27512
12、微机外围电路系列：
8155 8 8259 8212 8282 8283 8216 8
8205 8286 8287 6820 6821 6880 6888 6887 6889 6
8251 8708 6840 8 Z80CTC（802）
13、常用单片机系列：
8031 8032 8051 8052 8048 8039 8035 8 89C1051 89C2051
8751H 87C52 89C51 89C
14、其他系列：
2002 2003 2004 3486 3487 3459 2631 2632 2
339 192 293 393 555 2
9637 9638 7831 7 446MC1413（2003）
MC1416（2004） MC14160（40160） DG201 MC14161（40161）
MC14162（40162）MC14163 （40163） TIL308 MC14189（75189)
2902（324） 8T26（826) AD506