能量色散X荧光分析仪/X荧光分析仪/能量色散X荧光检测仪 型号：HA/CIT-3000SM
适用于矿山、选矿厂、冶炼厂、水泥等企业在生产过程中对产品质量行监测；
1. HA/CIT-3000SM产品配置：
- 采用口的美AMPTEK航天术的SI（PIN）半导体探测器系列
- 采用特数字脉冲采集电路及的电源管理术
- 采用口X光管
- 采用专用的X射线压发生器
- 采用RS232串口通讯
- 采用的系统控制电路和数字处理电路
- 采用专有的分析算法软件模块V2.0A
- 配备电脑
- 配备常用的制样具
- 配备专用的压片机
- 配备专用的测试样环
- 配备专用的测试硬标样
2.HA/CIT-3000SM 术标：
- 分析元素范围：Mg-U（主要是：Mg、Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、Cu、Pb、Zn、Cr、Br、Cd）；
- 元素含量分析范围：1ppm -99.99%（采用1024道多道分析器，分析度）；
- 采用美航天术的Si (PIN)半导体探测器计数，配合的数字脉冲处理术；
- 测量范围：1－30KeV；
- 管压：0kV-30kV（激发源为 30KV-钨靶微型X射线管）；
- 管流：5μA-200μA；（可减少整机耗和降低辐射）；
- 整机率：50W；
- 整机能量分辨率：150±5eV；
- 检测时间： <200S；
- 作环境温度：温度0-40℃；
- 作环境相对湿度：≤99%（不结露）；
- 测量物质状态：固体、粉末均可检测，制样简单；
- 体化设计，性能稳定，运行，；操作简单，测量时间短；
