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半导体泵浦激光原理实验系统 TP-XGL-2

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更新日期:2017-04-19
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详细介绍

 半导体泵浦激光原理实验系统/泵浦激光原理实验系统    型号;TP-XGL-2
TP-XGL-2型半导体泵浦激光原理实验系统采用波长为808nm的半导体泵浦源,激光晶体为ND:YVO4以及KTP倍频晶体等,构成整个实验系统。主要适用于大学近代物理教学,学生可以自己动手,通过调整激光器光路,观察倍频现象,并测量倍频效率、相位匹配角等参数,从而进一步了解和掌握激光原理及激光技术。



 

TP-XGL-2型半导体泵浦激光原理实验系统采用波长为808nm的半导体泵浦源,激光晶体
为ND:YVO4以及KTP倍频晶体等,构成整个实验系统。主要适用于大学近代物理教学,学生可以自己动手,通过调整激光器光路,观察倍频现象,并测量倍频效率、相位匹配角等参数,从而进一步了解和掌握激光原理及激光技术。

成套性:
光学导轨、二维调整架、四维调整架;
泵浦光源:808nm半导体激光器
指示光源:He-Ne激光器
晶体:ND:YVO4以及KTP
输出镜     激光功率计

可开实验:
半导体激光(LD)与LD泵浦固体激光器的原理与区别
激光阀值、激光斜率的测量
激光倍频原理和实验
激光发散角测量
激光器光斑尺寸的测量

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