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数字式四探针测试计SZB-SX1934B

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更新日期:2016-05-23
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详细介绍

 数字式四探针测试计/四探针测试计/数字式四探针测试仪 型号:SZB-SX1934B

产品特点
仪器由主机、测试探头(可选配测试台)等部分组成,测试结果由数字表头直接显示。主机主要由数控恒流源,高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成,自动转换量程。测试探头高分子材料和高耐磨碳化钨探针制成,故定位准确、游移率小、寿命长。仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。(自动调零

测量范围 电阻率:10-2~102Ω-cm;方块电阻:10-1~103Ω/□;电阻:10-3~9999Ω
可测半导体材料尺寸 直径:Φ15~100mm; 长(或高)度: ≤400mm
电源
功 耗:<1W; 电源适配器:输入:220V±10% 50Hz; 输出:DC5V±10%
外形尺寸 主机 170mm(D)×130 mm(W)×50mm(H)

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